带包覆层压力管道腐蚀难检测，数字探测器阵列技术来帮忙
压力管道是生产生活中重要的传输设备，通常盛装高温（或超低温）、高压、易燃、易爆、有毒等危险性较大的介质，其安全运行具有重大意义。由于长期受到内部物料及外部环境介质的化学与电化学作用，压力管道易出现壁厚减薄现象，从而带来安全隐患。另一方面，由于包覆层隔热和防护等要求，压力管道外围大多敷设一层包覆层，传统壁厚检测方法(如超声波测厚仪检测)检测时需要大量破坏包覆层，恢复包覆层时安装工艺的差异又可能会造成雨水渗入产生二次腐蚀。因此，选择可靠的压力管道带包覆层壁厚检测技术具有十分重要的意义。前，常用的带包覆层管道测厚技术有脉冲涡流检测、漏磁检测以及胶片照相法，但都各存在局限性。脉冲涡流技术对带包覆层管道测厚时，周围管道以及包覆层内的铁磁性物质对特征信号的提取会存在一定的干扰，包覆层厚度的不均匀也会干扰检测结果，且对局部腐蚀的检测灵敏度较低。射线胶片照相检测技术有成本高、检测结果误差较大、宽容度较低、检测效率低、胶片长期储存困难和不利于数字建档等缺点。漏磁检测技术只能发现较大的腐蚀坑，且图像不直观。所以有必要研究直观精确且干扰因素少的带包覆层管道测厚技术。基于数字探测器阵列(DDA)的射线数字成像技术目前已广泛应用于工业无损检测领域。使用该技术检测时，穿透被检工件的X射线携带工件信息被平板探测器接收，直接转换成数字图像显示在显示器上，无需暗室处理，检测效率高，缺陷检出率可以媲美传统胶片的检出率。
天津市特种设备监督检验技术研究院和上海市特种设备监督检验技术研究院的检测人员采用基于DDA的数字射线成像技术透照带包覆层压力管道进行成像，通过边缘提取技术识别管壁区域并检测壁厚，再与实际壁厚进行对比，验证该技术检测带包覆层管道腐蚀的可行性；同时分析检测结果误差的产生原因，提出进一步优化图像对比灵敏度与降低校准、检测误差的措施。
检测设备与检测原理
试验装置采用非晶硅平板探测器、脉冲X射线源。检测原理为：射线机发射X射线穿透被检管道，由于衰减特性，不同厚度区域透射出来的射线强度相对入射强度会有一定的减弱；穿透工件后的X射线光子撞击非晶硅平板探测器的闪烁体材料，闪烁体材料将其转化成可见光信号，光电二极管阵列接收该可见光信号并转换为电信号，再将电信号送至计算机中进行处理，从而形成X射线数字图像。
为贴近真实情况，试验用管子为自然状态，无人工加工缺陷，材料为20钢，规格（直径×壁厚）有两种，分别为60mm×6mm和60mm×5mm，包覆层均为50mm岩棉+1mm铁皮，管内无介质。试验装置及试验管道如图1所示。
图1 试验装置及管道实物
